Ta/NiFe/Cu/NiFe/FeMn/Ta自旋阀多层膜的X射线光电子能谱的研究 |
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引用本文: | 于广华,李明华,朱逢吾. Ta/NiFe/Cu/NiFe/FeMn/Ta自旋阀多层膜的X射线光电子能谱的研究[J]. 真空电子技术, 2003, 0(5): 42-45 |
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作者姓名: | 于广华 李明华 朱逢吾 |
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作者单位: | 北京科技大学,材料物理系,北京,100083 |
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基金项目: | 国家自然科学基金(50271007),北京市自然科学基金(2012011)资助项目。 |
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摘 要: | 实验表明:Ta/NiFe/FeMn/Ta多层膜的交换耦合场(Hex)要大于Ta/NiFe/Cu/NiFe/FeMn/Ta自旋阀多层膜中的以Hex。为了寻找其原因,用X射线光电子能谱(XPS)研究了Ta(12nm)/NiFe(7nm),Ta(12nm)/NiFe(7nm))/Cu(4nm)和Ta(12nm)/NiFe(7nm)/Cu(3nm)/NiFe(5nm)3种样品,研究结果表明,前两种样品表面无任何来自下层的元素偏聚;但在第3种样品最上层的NiFe表面上,探测到从下层偏聚上来的Cu原子。我们认为:Cu在NiFe/FeMn层间的存在是Ta/NiFe/Cu/NiFe/FeMn/Ta自旋阀多层膜的Hex低于Ta/NiFe/FeMn/Ta多层膜Hex的一个重要原因。
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关 键 词: | 自旋阀多层膜 交换耦合场 层间偏聚 X射线光电子能谱 |
文章编号: | 1002-8935(2003)05-0042-04 |
修稿时间: | 2002-12-27 |
Studies of X-ray Photoelectron Spectroscopy of Spin-valve Multilayers Ta/NiFe/Cu/NiFe/FeMn/Ta |
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Abstract: | |
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Keywords: | Spin valve multilayers Exchange coupling field Interlayer segregation X-ray photoelectron spectroscopy |
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