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| 国外半导体器件可靠性基本概念及试验方法(下) | |
| 作者姓名： | 吴来安 |
| 摘 要： | 五、研制、生产中的可靠性1.概述:这方面内容最近国外有不少报导。这里只是综合一下,作一简单介绍。对于一个高可靠性的设计必须在研制工艺(或生产中)中来实现它。如果设计人员没有深入考虑可靠性问题,即使做出有良好电学性能的器件,也是无法用于实际环境中去的;反之有了正确的可靠性设计,如果没有良好工艺制作去完成它,也是实现不了高可靠性的,也谈不上使用它。本节主要说明在认为是高可靠性设计完成后,在工艺制作和科研管理上如 |
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