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静态MOS存储器中门控管导通条件的分析
引用本文:刘方鑫.静态MOS存储器中门控管导通条件的分析[J].半导体技术,1984(3).
作者姓名:刘方鑫
作者单位:中国矿业学院
摘    要:目前流行的一些教科书、科技书(见参考资料1]~7]),在论述半导体存储器工作原理时,对静态MOS存储器中门控管导通条件的分析只注意了管子栅极的电位.因此提出只要在存储单元的字线上加入脉冲,门控管将被导通.有的书(见参考资料4])还明确提出:“在字线上加入脉冲同时将门控管T_5,T_6打开”.有的外文科技书也有类似的说法(见参考资料8]).

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