|
|||||
|
|
| 能带结构对InGaAsP半导体光增益谱的影响 | |
| 作者姓名： | 郭长志 黄永箴 |
| 作者单位： | 北京大学物理系固体能谱研究室(郭长志)，北京大学物理系固体能谱研究室(黄永箴) |
| 摘 要： | 本文从理论上系统地研究了能带结构对InGaAsP四元半导体光增益过程的作用,着重分析对能带结构敏感的能态密度及光跃迁矩阵元在不同掺杂、不同注入和不同温度下对光增益谱的影响及其物理根源.对现行的五种理论模型的计算结果及其与实验的比较表明,以k选择为主的跃迁与考虑导带-受主间跃迁的结果相差可达一倍以上,而以k选择为主的跃迁的计算结果与实验符合较好,如采用改进能带则可进一步减小高能端吸收系数与实验的差距. |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |
| 点击此处可从《半导体学报》浏览原始摘要信息 | |
| 点击此处可从《半导体学报》下载全文 | |