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| 适用于δ-相关解扩的扩频码检验方法 | |
| 作者姓名： | 龙德浩 陈志清 |
| 作者单位： | 1. 四川大学,成都610064 2. 成都大学,成都610106 |
| 摘 要： | 基于Welch内积定理(IC定理),导出了归一化零时延互相关函数或零时延内积的绝对最大值δ0的三条基本特性,从而把Welch内积定理演变成了适用于计算量较小、解扩增益较高、有峰值、无旁瓣的δ 相关解扩的扩频码检验方法,即“实用Welch内积定理-扩频码检验方法”,为作者拟定的“δ/θ型基带相关检测/解扩方案”(电讯技术,2012,52(9):1438-1442)的工程应用奠定了扩频码检验与设计的理论基础.这两个检验方法与现存经典(含Welch)扩频码检验方法在参数、结构、判决方式等方面都不相同. |
| 关 键 词： | 扩频码检验 Welch内积定理 实用Welch内积定理－扩频码检验 δ-相关解扩 |
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