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杂志ISSN号
电子元器件稳态寿命远程试验信息管理系统
引用本文:
许欣,王宝友,任翔.电子元器件稳态寿命远程试验信息管理系统[J].信息技术与标准化,2008(6):15-18.
作者姓名:
许欣
王宝友
任翔
作者单位:
1. 桂林电子科技大学
2. 中国电子技术标准化研究所
摘 要:
稳态寿命试验是保证电子元器件的使用可靠性和评估微电子器件的质量与可靠性水平的重要试验.针对试验的持续时间长.元器件研制单位地域分布广泛以及监督成本高等问题,提出了电子元器件远程稳态寿命试验监测信息管理系统.采用C/S与B/S混合结构来实现电子元器件远程稳态寿命试验数据采集后期的数据处理、存储及发布.通过信息管理系统能够很好的远程实施异地监测的整个试验过程,保证试验结果的准确性及实时性.
关 键 词:
电子元器件
B/S结构
C/S结构
电子元器件
稳态
寿命
远程试验
信息管理系统
Electronic
Component
Information
Management
System
Test
Remote
Life
实时性
结果
保证试验
过程
试验监测
实施
存储
数据处理
数据采集
混合结构
修稿时间:
2008年3月7日
Steady Life Remote Test Information Management System of Electronic Component
Abstract:
Keywords:
本文献已被
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