微型计算机在半导体C—V测试中的应用

本文在分析现有C—V测试仪所存在问题的基础上,研究了用微型机进行C—V测试。提出了测试基本线路和测试原理。对所编程序进行了扼要说明。该测试以数字显示代替指针式仪表显示,以打印结果代替X—Y函数记录。实践的结果表明:该测试装置具有使用方便,测试迅速结果准确,成本低等特点。