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具有寄生电阻消除功能的远端测温芯片
引用本文:翟世崇,李文昌,吴鸿昊,刘剑,鉴海防.具有寄生电阻消除功能的远端测温芯片[J].半导体技术,2021,46(9):680-685.
作者姓名:翟世崇  李文昌  吴鸿昊  刘剑  鉴海防
作者单位:中国科学院半导体研究所,北京 100083;中国科学院大学,北京 100049
摘    要:设计并流片实现了一款具有寄生电阻消除功能的远端测温芯片.分析了远端测温原理和寄生电阻对测温精度的影响,利用差分结构采集远端三极管产生的温度信号.采用一阶∑-△模数转换器(ADC)将温度信号进行量化,并使用寄生电阻消除技术降低寄生电阻对测温精度的影响.该芯片采用0.18 μm BCD工艺设计并流片,测试结果表明,当远端三极管在-40℃下,使用寄生电阻消除技术可以将1.5 k-Ω寄生电阻对测温精度的影响降低到0.5℃以内;远端三极管在-40~125℃温度范围内,消除寄生电阻影响后远端测温芯片的3σ误差小于±0.6℃.

关 键 词:远端测温芯片  双极型晶体管  寄生电阻消除  ∑-△调制器  模数转换器(ADC)

Remote Temperature Measurement Chip with Parasitic Resistance Cancellation Function
Zhai Shichong,Li Wenchang,Wu Honghao,Liu Jian,Jian Haifang.Remote Temperature Measurement Chip with Parasitic Resistance Cancellation Function[J].Semiconductor Technology,2021,46(9):680-685.
Authors:Zhai Shichong  Li Wenchang  Wu Honghao  Liu Jian  Jian Haifang
Abstract:
Keywords:
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