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GaN基紫外光电探测器的材料制备及器件优化研究进展
引用本文:朱彦旭,李锜轩,谭张杨,李建伟,魏昭,王猜. GaN基紫外光电探测器的材料制备及器件优化研究进展[J]. 半导体技术, 2021, 46(5): 337-348. DOI: 10.13290/j.cnki.bdtjs.2021.05.001
作者姓名:朱彦旭  李锜轩  谭张杨  李建伟  魏昭  王猜
作者单位:北京工业大学光电子技术教育部重点实验室,北京 100124
摘    要:紫外光在各领域应用广泛,制备高性能紫外光电探测器(UVPD)受到研究人员的重视.GaN作为宽禁带半导体材料,具有高电子迁移率、稳定的物理化学性质、高击穿电压、低暗电流和固有可见盲区的特点.GaN基UV PD具有制备工艺简单、体积小无需附加滤光系统、易于与其他材料集成等特点,表现出优异的紫外光探测性能.围绕GaN基UVPD,介绍了 GaN材料在制备工艺上的研究进展;详细论述了常见结构GaN基UV PD最新结构的优化对器件性能的影响;介绍了基于表面声波、表面等离激元和场效应晶体管集成的新型GaN基UV PD;最后,对GaN基UV PD的发展趋势进行了展望.

关 键 词:GaN  紫外光电探测器(UVPD)  器件优化  响应度  比探测率

Research Progress of Material Preparation and Device Optimization of GaN-Based Ultraviolet Photodetectors
Zhu Yanxu,Li Qixuan,Tan Zhangyang,Li Jianwei,Wei Zhao,Wang Cai. Research Progress of Material Preparation and Device Optimization of GaN-Based Ultraviolet Photodetectors[J]. Semiconductor Technology, 2021, 46(5): 337-348. DOI: 10.13290/j.cnki.bdtjs.2021.05.001
Authors:Zhu Yanxu  Li Qixuan  Tan Zhangyang  Li Jianwei  Wei Zhao  Wang Cai
Abstract:
Keywords:
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