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| 程序块谱和随机谱下的可靠寿命消耗评估方法 | |
| 作者姓名： | 傅惠民 付越帅 李子昂 |
| 作者单位： | 北京航空航天大学小样本技术研究中心,北京100191 |
| 摘 要： | 针对加速寿命试验中常见的程序块谱和随机谱加载的情况,建立一种机电产品可靠寿命消耗评估方法.首先根据等损伤原理,建立了程序块谱和随机谱与标准载荷加载下的可靠寿命单侧置信下限之间的关系,分别对单应力和双应力、三应力等多应力情况的程序块谱和随机谱加载进行了详细讨论,然后给出了相应的可靠寿命消耗和剩余可靠寿命百分比及其置信限的... |
| 关 键 词： | 程序块谱 随机谱 可靠寿命消耗 剩余可靠寿命 单机监控 寿命管理 |
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