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具有夹层的垂直U型栅极TFET的设计
引用本文:郭浩,朱慧珑,黄伟兴.具有夹层的垂直U型栅极TFET的设计[J].半导体技术,2021,46(7):532-538.
作者姓名:郭浩  朱慧珑  黄伟兴
作者单位:中国科学技术大学微电子学院,合肥 230022;中国科学院微电子研究所,北京 100029
摘    要:通过使用工艺计算机辅助设计(TCAD)仿真技术提出了一种新型的带有夹层的垂直U型栅极隧穿场效应晶体管(TFET)结构.该器件是通过优化基于Ge的栅极金属核垂直纳米线TFET结构获得的.通过在沟道中增加重掺杂夹层,器件的平均亚阈值摆幅(SSavg)得到了改善;又通过改变器件的源极和漏极材料,器件的开关电流比(Ion/Ioff)得到了改善.对夹层的掺杂浓度和厚度以及沟道的高度也进行了优化.最终优化后的器件开态电流为220 μA/μm,关态电流为3.08×10-10μA/pm,SSavg为8.6 mV/dec,表现出了优越的性能.与初始器件相比,该器件的SSavg减小了 77%,Ion/Ioff增加了两个数量级以上.此外,提出了针对该器件的可行的制备工艺步骤.因此,认为该器件是在超低功耗应用中非常具有潜力的候选器件.

关 键 词:隧穿场效应晶体管(TFET)  Si0.3Ge0.7  带带隧穿(BTBT)  平均亚阈值摆幅  开关电流比

Design of the Vertical U-Shaped Gate TFET with Sandwich Layer
Guo Hao,Zhu Huilong,Huang Weixing.Design of the Vertical U-Shaped Gate TFET with Sandwich Layer[J].Semiconductor Technology,2021,46(7):532-538.
Authors:Guo Hao  Zhu Huilong  Huang Weixing
Abstract:
Keywords:
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