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La掺杂n型Mg_2Si基半导体的热电性能研究
引用本文:张倩,朱铁军,殷浩,赵新兵.La掺杂n型Mg_2Si基半导体的热电性能研究[J].功能材料,2008,39(12).
作者姓名:张倩  朱铁军  殷浩  赵新兵
作者单位:浙江大学硅材料国家重点实验室;
基金项目:国家重点基础研究发展计划(973计划) , 国家自然科学基金  
摘    要:采用感应熔炼然后热压的方法制备了La掺杂Mg2Si基热电材料Mg2-xLaxSi(x=0、0.002、0.005、0.010、0.015).La在Mg2Si中占Mg位,当x≥0.005时,出现第二相LaMg.性能测试表明,Mg2-xLaxSi的导电类型为n型,Seebeck系数的绝对值随La含量的增多而减小,电导率和热导率均随La含量的增多而增大,在测试温度范围内,Mg1.995La0.005Si具有最高的ZT值,在774K温度下达到0.42.

关 键 词:热电材料  掺杂

Thermoelectric properties of n-type La-doped Mg2Si based semiconductors
ZHANG Qian,ZHU Tie-jun,YIN Hao,ZHAO Xin-bing.Thermoelectric properties of n-type La-doped Mg2Si based semiconductors[J].Journal of Functional Materials,2008,39(12).
Authors:ZHANG Qian  ZHU Tie-jun  YIN Hao  ZHAO Xin-bing
Affiliation:ZHANG Qian,ZHU Tie-jun,YIN Hao,ZHAO Xin-bing(State Key Laboratory of Silicon Materials,Zhejiang University,Hangzhou 310027,China)
Abstract:
Keywords:Mg2Si  La
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