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| 基于面阵CCD的不规则平面物体面积测量仪的研制 | |
| 引用本文： | 赵立生,杜安,张伟.基于面阵CCD的不规则平面物体面积测量仪的研制[J].中国仪器仪表,2005(1):69-72. |
| 作者姓名： | 赵立生 杜安 张伟 |
| 作者单位： | 哈尔滨工业大学航天学院,哈尔滨,150001 |
| 摘 要： | 介绍了一种基于面阵CCD的高性能面积测量仪的研制.详细阐述了有关的工作原理和术.本光电仪器充分应用了PIC单片机自身的软硬件资源,具有便携式、可编程、存储容量大、图文显示等特点,并可推广应用于其他领域. |
| 关 键 词： | 面阵CCD 面积测量仪 PIC单片机 接口技术 点阵式液晶显示器 |
The Development of an Instrument for Anomalistic Area Measurement Based on Matrix CCD |
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