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某机载VPX模块故障分析、改进设计及验证
作者姓名:尤浩  李鹏程
作者单位:中国电子科技集团公司第二十研究所,陕西西安710068
摘    要:电子设备在运输、使用过程中受到环境应力的作用而发生故障时有发生.采用金相切片检测技术和应变测试技术对某机载VPX模块的故障进行分析,完成故障定位与机理分析,并对改进后的设计进行验证,为同类模块设计提供参考.

关 键 词:故障分析  金相切片  应变测试
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