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自动测试系统中矩阵开关的设计与实现
引用本文:陈雄姿,龙辛,戴建利,刘道. 自动测试系统中矩阵开关的设计与实现[J]. 机械工程与自动化, 2015, 0(2): 165-167
作者姓名:陈雄姿  龙辛  戴建利  刘道
作者单位:湘潭大学智能计算与信息处理教育部重点实验室;湘电风能有限公司
基金项目:“十一五”国家科技支撑计划项目(2006BAA01A06)
摘    要:矩阵开关是自动测试系统的重要组成部分,负责测试信号的通道选择和切换。根据自动测试系统的实际要求,设计并实现了一种基于FPGA的大规模矩阵开关,它以FPGA为实际控制逻辑核心,通过上位机对FPGA进行配置以实现测试电路以及外围设备的切换。本方案具有开关规模大、成本低、通用性强等特点,极大地提高了测试效率和测试的自动化程度。

关 键 词:自动测试系统  矩阵开关  FPGA  设计

Design and Implementation of Matrix Switch in Automatic Test System
CHEN Xiong-zi;LONG Xin;DAI Jian-li;LIU Dao. Design and Implementation of Matrix Switch in Automatic Test System[J]. Mechanical Engineering & Automation, 2015, 0(2): 165-167
Authors:CHEN Xiong-zi  LONG Xin  DAI Jian-li  LIU Dao
Affiliation:CHEN Xiong-zi;LONG Xin;DAI Jian-li;LIU Dao;Key Laboratory of Intelligent Computing &Information Processing of Ministry of Education,Xiangtan University;XEMC Wind Power Co.,Ltd.;
Abstract:
Keywords:
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