| 通用嵌入式测控系统开发平台研究 |
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| 引用本文： | 唐华,毛磊,何仁伦.通用嵌入式测控系统开发平台研究[J].中国测试技术,2008,34(2):40-43. |
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| 作者姓名： | 唐华 毛磊 何仁伦 |
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| 作者单位： | 中国西南电子设备研究所,四川成都,610036 |
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| 摘 要： | 针对目前工业控制领域应用的嵌入式测控产品大多存在技术落后、通用性差的问题,提出基于ARM和DSP的通用嵌入式测控系统开发平台,将DSP的强大运算能力和新型单片机ARM处理器的强大控制能力结合在一起,能满足大多数中低速嵌人式测控系统的应用要求,由于其良好的通用性,在多个项目应用中均取得了较好的效果.
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| 关 键 词： | 测控系统 ARM DSP CAN USB 嵌入式测控系统 开发平台 研究 based controlling testing system development 效果 项目 嵌人式 中低速 结合 控制能力 处理器 单片机 运算能力 问题 通用性 存在 产品 |
Embedded system development kit for testing and controlling based on ARM and DSP |
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| TANG Hua,MAO Lei,HE Ren-lun.Embedded system development kit for testing and controlling based on ARM and DSP[J].China Measurement Technology,2008,34(2):40-43. |
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| Authors: | TANG Hua MAO Lei HE Ren-lun |
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