| IC参数成品率全局优化的映射距离最小化算法 |
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| 引用本文： | 荆明娥,李康,王俊平,郝跃. IC参数成品率全局优化的映射距离最小化算法[J]. 半导体学报, 2005, 26(6): 1259-1263 |
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| 作者姓名： | 荆明娥 李康 王俊平 郝跃 |
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| 作者单位： | 西安电子科技大学微电子学院,宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室,西安,710071;西安电子科技大学微电子学院,宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室,西安,710071;西安电子科技大学微电子学院,宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室,西安,710071;西安电子科技大学微电子学院,宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室,西安,710071 |
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| 基金项目： | 国家高技术研究发展计划(863计划) |
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| 摘 要： | 提出了一种新的集成电路参数成品率的全局优化算法--映射距离最小化算法.该算法采用了均匀设计与映射距离最小的耦合优化,每次迭代模拟次数很少,优化过程明显加速.另外,给出了一种粗略估计空间点集均匀性的方法--k近邻密度估计,在有效时间内判断一个空间点集的均匀性.模拟结果表明,该算法对集成电路进行快速成品率优化设计及提高电路设计的稳定性具有较好的应用价值.
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| 关 键 词： | 参数成品率 映射距离 均匀设计 k近邻密度估计 |
| 文章编号： | 0253-4177(2005)06-1259-05 |
| 修稿时间： | 2004-06-05 |
Global Optimization for an IC Parametric Yield Based on the Minimum Mapping Distance Method |
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| Jing Ming''''e,Li Kang,WANG Junping,Hao Yue. Global Optimization for an IC Parametric Yield Based on the Minimum Mapping Distance Method[J]. Chinese Journal of Semiconductors, 2005, 26(6): 1259-1263 |
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| Authors: | Jing Ming''''e Li Kang WANG Junping Hao Yue |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | parametric yield mapping distance uniform design kNN density estimation |
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