| 一种新型的可编程存储器BIST设计 |
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| 引用本文： | 谈恩民,张勇. 一种新型的可编程存储器BIST设计[J]. 电子测量与仪器学报, 2004, 18(Z2): 648-651 |
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| 作者姓名： | 谈恩民 张勇 |
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| 作者单位： | 1. 桂林电子工业学院桂林,541004;上海交通大学电子信息与电气工程学院,上海,200030
2. 桂林电子工业学院桂林,541004 |
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| 摘 要： | 本文提出一种新型的可编程存储器BIST控制器设计.它使用新型的指令格式,可以实现各种March算法.通过使用这种指令格式能减少指令数据量和字节内故障的测试时间.为了进行诊断测试,在BIST控制器设计中加入诊断模块,能够输出故障地址和故障操作.
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| 关 键 词： | BIST SRAM测试 March算法 可编程 |
A New Design of Programmable Memory BIST |
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| Tan Enmin,Zhang Yong. A New Design of Programmable Memory BIST[J]. Journal of Electronic Measurement and Instrument, 2004, 18(Z2): 648-651 |
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| Authors: | Tan Enmin Zhang Yong |
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