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Pb1-xLaxTiO3薄膜的制备及介电特性研究
引用本文:朱卫东,郑分刚,沈明荣,甘肇强,葛水兵.Pb1-xLaxTiO3薄膜的制备及介电特性研究[J].材料科学与工程学报,2000,18(3):84-86.
作者姓名:朱卫东  郑分刚  沈明荣  甘肇强  葛水兵
作者单位:苏州大学物理系薄膜材料实验室,江苏,苏州,215006
摘    要:用溶胶-凝胶法在Pt/Ti/SiO2/Si(100)基底上制备Pb1-xLaxTiO3(PLT,x<0.2)薄膜,研究薄膜的结构及其介电、铁电性能.在600℃下退火1小时的PLT薄膜表现出单一的钙钛矿结构,(100)择优取向明显.在室温下PLT薄膜有典型的电滞回线.在x<0.2(摩尔比)的范围内,PLT薄膜相对介电常数则随着La的增加而增加.

关 键 词:溶胶-凝胶  PLT薄膜

Preparation and Characterization of Pb1-xLaxTiO3(PLT)Thin Films
ZHU Wei-dong,ZHENG Fen-gang,SHEN Ming-rong,GAN Zhao-qiang,GE Shui-bing.Preparation and Characterization of Pb1-xLaxTiO3(PLT)Thin Films[J].Journal of Materials Science and Engineering,2000,18(3):84-86.
Authors:ZHU Wei-dong  ZHENG Fen-gang  SHEN Ming-rong  GAN Zhao-qiang  GE Shui-bing
Abstract:
Keywords:Sol\|gel  PLT thin film
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