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| 数字射线检测技术专题(三)——成像过程基本理论 | |
| 作者姓名： | 郑世才 |
| 作者单位： | 新立机器厂,北京100039 |
| 摘 要： | 从一般的成像概念,介绍了成像过程的卷积理论和空间频域分析傅里叶变换方法,给出了调制传递函数概念和瑞利判据,并讨论了射线检测的不清晰度与系统扩散函数关系。 |
| 关 键 词： | 成像过程 不清晰度 数字技术 射线检测 |
| 本文献已被 CNKI 维普 等数据库收录！ | |
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