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基于FC技术的AlGaN/GaN HEMT
引用本文:陈晓娟,刘新宇,邵刚,刘键,和致经,汪锁发,吴德馨. 基于FC技术的AlGaN/GaN HEMT[J]. 半导体学报, 2005, 26(5)
作者姓名:陈晓娟  刘新宇  邵刚  刘键  和致经  汪锁发  吴德馨
作者单位:中国科学院微电子研究所,北京,100029
基金项目:国家重点基础研究发展计划(973计划),中国科学院知识创新工程项目
摘    要:采用FC技术将管芯倒扣至AlN基板散热的AlGaN/GaN HEMTs,并通过热阻模型分析了FC方式的散热机理.从测试结果看,器件的热阻可大幅降到14.9K·mm/W,直流特性明显增加,饱和电流提高33%.表明采用FC技术有效改善了器件散热,而且引入的寄生电感较小,可获得更大输出功率.如果进一步完善频率特性的优化,可以加快FC技术的AlGaN/GaN大功率HEMT器件的实用化进程.

关 键 词:AlGaN/GaN  HEMT  FC  倒扣  热阻

AlGaN/GaN HEMT on Sapphire Using FC Bonding
Chen Xiaojuan,Liu Xinyu,SHAO Gang,Liu Jian,He Zhijing,Wang Suofa,Wu Dexin. AlGaN/GaN HEMT on Sapphire Using FC Bonding[J]. Chinese Journal of Semiconductors, 2005, 26(5)
Authors:Chen Xiaojuan  Liu Xinyu  SHAO Gang  Liu Jian  He Zhijing  Wang Suofa  Wu Dexin
Abstract:
Keywords:
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