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基于MBE的fmax为157GHz的SiGeHBT器件
引用本文:刘道广,郝跃,徐世六,李开成,刘玉奎,何开全,刘嵘侃,张静,刘伦才,徐婉静,李荣强,陈光炳,徐学良.基于MBE的fmax为157GHz的SiGeHBT器件[J].半导体学报,2005,26(3).
作者姓名:刘道广  郝跃  徐世六  李开成  刘玉奎  何开全  刘嵘侃  张静  刘伦才  徐婉静  李荣强  陈光炳  徐学良
作者单位:西安电子科技大学微电子所,西安 710071;中国电子科技集团电子24所,重庆,400060;国家模拟集成电路重点实验室,重庆,400060;西安电子科技大学微电子所,西安 710071;中国电子科技集团电子24所,重庆,400060;国家模拟集成电路重点实验室,重庆,400060
摘    要:在模拟集成电路的应用中,不仅注重器件fT,而且注重晶体管最高振荡频率(fmax).文中以MBE生长的SiGe材料为基础,进行了提高SiGe HBT器件fmax的研究,研制出了fmax=157GHz的SiGe HBT器件.

关 键 词:自对准  空气桥  SiGe合金材料

SiGe HBT with fmax of 157GHz Based on MBE
Abstract:
Keywords:
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