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MS/RF CMOS工艺兼容的光电探测器
引用本文:黄家乐,毛陆虹,陈弘达,高鹏,刘金彬,雷晓荃. MS/RF CMOS工艺兼容的光电探测器[J]. 半导体学报, 2005, 26(10)
作者姓名:黄家乐  毛陆虹  陈弘达  高鹏  刘金彬  雷晓荃
作者单位:1. 天津大学电子与信息工程学院,天津,300072
2. 中国科学院半导体研究所,集成光电子学国家重点实验室,北京,100083
基金项目:国家高技术研究发展计划(863计划),国家自然科学基金
摘    要:为实现光纤通信系统中的单片光电集成,采用工业标准工艺设计了硅基光电探测器,讨论了光电探测器的机理,提出了五种新的探测器结构,并采用TSMC 0.18μm MS/RF CMOS工艺进行了流片.利用半导体测试仪对芯片进行了测试,包括探测器的暗电流、响应度和结电容,并分析了深n阱、浅沟槽隔离等工艺步骤对探测器参数的影响.结果表明,利用标准MS/RF CMOS工艺实现的光电探测器具有良好的特性.

关 键 词:单片集成  MS/RF  CMOS工艺  硅光电探测器  暗电流  响应度  结电容

A MS/RF CMOS-Process-Compatible Photodetector
Huang Jiale,Mao Luhong,Chen Hongda,Gao Peng,Liu Jinbin,Lei Xiaoquan. A MS/RF CMOS-Process-Compatible Photodetector[J]. Chinese Journal of Semiconductors, 2005, 26(10)
Authors:Huang Jiale  Mao Luhong  Chen Hongda  Gao Peng  Liu Jinbin  Lei Xiaoquan
Abstract:
Keywords:
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