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多分辨率迭代切距离及其在目标识别中的应用
引用本文:王国刚,史泽林,刘云鹏. 多分辨率迭代切距离及其在目标识别中的应用[J]. 红外与激光工程, 2012, 41(5): 1369-1373
作者姓名:王国刚  史泽林  刘云鹏
作者单位:1. 中国科学院沈阳自动化研究所,辽宁沈阳110016;沈阳化工大学信息学院,辽宁沈阳110142;中国科学院研究生院,北京100049;中国科学院光电信息处理重点实验室,辽宁沈阳110016
2. 中国科学院沈阳自动化研究所,辽宁沈阳110016;中国科学院研究生院,北京100049;中国科学院光电信息处理重点实验室,辽宁沈阳110016
基金项目:中国科学院国防科技创新基金,辽宁省高等学校杰出青年学者成长计划,辽宁省博士启动基金
摘    要:针对在目标识别过程中切距离的线性逼近、易陷入局部最优的局限性,提出了一种新的仿射变换不变距离度量,即多分辨率迭代切距离(MITD),并将其用于仿射变形下的目标识别。MITD将迭代切距离嵌入多分辨率框架,计算模板图像和实时图像之间的变换不变距离,以扩大算法的收敛域,提高目标识别算法的识别概率。实验结果表明,所提出的基于MITD的目标识别方法较基于欧氏距离(ED)和切距离(TD)的算法具有明显优势,优于基于迭代切距离(ITD)的算法,具有较高的鲁棒性。

关 键 词:迭代切距离  仿射变换  切距离  多分辨率

Multi-resolution iterative tangent distance for object recognition
Wang Guogang , Shi Zelin , Liu Yunpeng. Multi-resolution iterative tangent distance for object recognition[J]. Infrared and Laser Engineering, 2012, 41(5): 1369-1373
Authors:Wang Guogang    Shi Zelin    Liu Yunpeng
Affiliation:1,3,4(1.Shenyang Institute of Automation,Chinese Academy of Sciences,Shenyang 110016,China; 2.Institute of Information,Shenyang University of Chemical Technology,Shenyang 110142,China; 3.Graduate University of the Chinese Academy of Sciences,Beijing 100049,China; 4.Key Laboratory of Optical-Electronics Information Processing,Chinese Academy of Sciences,Shenyang 110016,China)
Abstract:
Keywords:
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