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| X射线荧光分析中的综合灵敏度因子KI_0和准绝对测量 | |
| 引用本文： | 曹利国.X射线荧光分析中的综合灵敏度因子KI_0和准绝对测量[J].核技术,1987(7). |
| 作者姓名： | 曹利国 |
| 作者单位： | 成都地质学院 |
| 摘 要： | 在X射线荧光分析,尤其是能量色散X射线荧光分析中常常使用相对测量方法。除了这一方法简单易行之外,主要是它避免了待测元素物理性质、激发源能量和强度、探测器特性以及几何因素等测量困难和现有参数数据不准确等引入的误差。其实质是在同一条件下,认为待测样品和标样中的待测元素含量比与特征谱线强度比相等: |
| 关 键 词： | X射线荧光分析 基体效应 综合灵敏度因子KI_o 准绝对测量 |
Comprehensive sensitivity factor KIo and quasi-absolute determination in XRP |
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| Cao Liguo.Comprehensive sensitivity factor KIo and quasi-absolute determination in XRP[J].Nuclear Techniques,1987(7). | |
| Authors: | Cao Liguo |
| Affiliation: | Chengdu College of Geology |
| Abstract: | |
| Keywords: | X-ray fluorescence analysis matrix effects comprehensive sensitivity factor KI0 quasi-absolute determination |
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