多光谱扫描仪调焦制冷系统 |
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引用本文: | 洪国同,崔广德,徐泽元,潘雁频,韩军.多光谱扫描仪调焦制冷系统[J].真空与低温,1988(3). |
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作者姓名: | 洪国同 崔广德 徐泽元 潘雁频 韩军 |
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作者单位: | 兰州物理研究所,兰州物理研究所,兰州物理研究所,兰州物理研究所,兰州物理研究所 |
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摘 要: | 叙述了一种专供多光谱扫描仪试验用的低温解冷系统.系统采用可拆卸的真空杜瓦结构和温度可控的开式 J—T 节流制冷循环.降温速度快、无污染、无振动,探测元件及其引线的检修方便,能在45分钟之内为多光谱扫描仪探测元件提供所需的真空低温条什.最低制冷温度达83.5K(制冷置0.86瓦),稳定真空度1.73×10~(-3)帕,温控范围,84K—190K,精度好于±0.2K.
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关 键 词: | 制冷系统 光谱分析器 真空装置 |
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