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多光谱扫描仪调焦制冷系统
引用本文:洪国同,崔广德,徐泽元,潘雁频,韩军.多光谱扫描仪调焦制冷系统[J].真空与低温,1988(3).
作者姓名:洪国同  崔广德  徐泽元  潘雁频  韩军
作者单位:兰州物理研究所,兰州物理研究所,兰州物理研究所,兰州物理研究所,兰州物理研究所
摘    要:叙述了一种专供多光谱扫描仪试验用的低温解冷系统.系统采用可拆卸的真空杜瓦结构和温度可控的开式 J—T 节流制冷循环.降温速度快、无污染、无振动,探测元件及其引线的检修方便,能在45分钟之内为多光谱扫描仪探测元件提供所需的真空低温条什.最低制冷温度达83.5K(制冷置0.86瓦),稳定真空度1.73×10~(-3)帕,温控范围,84K—190K,精度好于±0.2K.

关 键 词:制冷系统  光谱分析器  真空装置
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