| 一种测量体光栅调制度和有效厚度的新方法 |
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| 引用本文： | 李继锋,赵建林,邸江磊.一种测量体光栅调制度和有效厚度的新方法[J].光电子．激光,2005,16(3):340-343. |
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| 作者姓名： | 李继锋 赵建林 邸江磊 |
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| 作者单位： | 西北工业大学理学院光信息科学与技术研究所,陕西,西安,710072 |
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| 摘 要： | 以Kogelnik的体相位光栅耦合波理论为基础，通过测量光折变体光栅的衍射效率与布喇格偏移角的关系曲线，并根据该曲线的3dB带宽和旁瓣峰值的相对大小及其角度偏移量，可计算出光折变体光栅的折射率调制度和有效厚度。对LiNbO3：Fe晶体的实验测量结果很好地验证了该方法的可行性，其测量精度与数字全息术和马赫一曾德干涉仪的方法相当，但测量过程却更加简单。
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| 关 键 词： | 光折变体光栅 衍射效率 折射率调制度 有效厚度 |
| 文章编号： | 1005-0086(2005)03-0340-04 |
A Novel Method for Measuring Modulation Depth and Effective Thickness of Volume Gratings |
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| LI Ji-feng,ZHAO Jian-lin,DI Jiang-lei.A Novel Method for Measuring Modulation Depth and Effective Thickness of Volume Gratings[J].Journal of Optoelectronics·laser,2005,16(3):340-343. |
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| Authors: | LI Ji-feng ZHAO Jian-lin DI Jiang-lei |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | photorefractive volume grating diffraction efficiency refractive index modulation depth |
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