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基于DICE结构的抗辐射SRAM设计
引用本文:章凌宇,贾宇明,李磊,胡明浩.基于DICE结构的抗辐射SRAM设计[J].微电子学,2011,41(1).
作者姓名:章凌宇  贾宇明  李磊  胡明浩
作者单位:电子科技大学,电子科学技术研究院,成都,610054
摘    要:空间应用的SRAM必须具备抗辐射加固能力.介绍了SRAM工作原理与双互锁存储单元(DICE)技术,给出了基于DICE结构的SRAM存储单元的电路设计、版图设计及其功能仿真.在SMIC 0.13μm工艺下,应用HSPICE进行单粒子效应模拟,与传统6T CMOS SRAM相比,基于DICE结构的SRAM在相同工艺条件下抗辐照能力有显著的提高.

关 键 词:辐射加固  双互锁存储单元  存储器

Design of Radiation Hardened SRAM Based on DICE
ZHANG Lingyu,JIA Yuming,LI Lei,HU Minghao.Design of Radiation Hardened SRAM Based on DICE[J].Microelectronics,2011,41(1).
Authors:ZHANG Lingyu  JIA Yuming  LI Lei  HU Minghao
Affiliation:ZHANG Lingyu,JIA Yuming,LI Lei,HU Minghao(Research Institute of Electronic Science and Technology,University of Electronic Science and Technology of China,Chengdu 610054,P.R.China)
Abstract:
Keywords:SRAM
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