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薄膜光学常数的原位测定
引用本文:谢茂彬,吴智勇,崔恒毅,赵新潮,玄志一,刘清权,刘锋,孙聊新,王少伟. 薄膜光学常数的原位测定[J]. 红外与毫米波学报, 2022, 41(5): 888-893
作者姓名:谢茂彬  吴智勇  崔恒毅  赵新潮  玄志一  刘清权  刘锋  孙聊新  王少伟
作者单位:中国科学院上海技术物理研究所红外物理国家重点实验室,上海 200083;上海节能镀膜玻璃工程技术研究中心,上海 200083;上海量子科学研究中心,上海 201315;中国科学院大学,北京 100049,中国科学院上海技术物理研究所红外物理国家重点实验室,上海 200083;上海师范大学物理系,上海 200234;上海节能镀膜玻璃工程技术研究中心,上海 200083,中国科学院上海技术物理研究所红外物理国家重点实验室,上海 200083;上海节能镀膜玻璃工程技术研究中心,上海 200083;上海量子科学研究中心,上海 201315;中国科学院大学,北京 100049,中国科学院上海技术物理研究所红外物理国家重点实验室,上海 200083;上海节能镀膜玻璃工程技术研究中心,上海 200083;上海量子科学研究中心,上海 201315;中国科学院大学,北京 100049,中国科学院上海技术物理研究所红外物理国家重点实验室,上海 200083;上海量子科学研究中心,上海 201315;中国科学院大学,北京 100049;上海科技大学物质科学与技术学院,上海 201210,中国科学院上海技术物理研究所红外物理国家重点实验室,上海 200083;上海量子科学研究中心,上海 201315;中国科学院大学,北京 100049;上海科技大学物质科学与技术学院,上海 201210,上海师范大学物理系,上海 200234,中国科学院上海技术物理研究所红外物理国家重点实验室,上海 200083;上海节能镀膜玻璃工程技术研究中心,上海 200083;中国科学院大学,北京 100049,中国科学院上海技术物理研究所红外物理国家重点实验室,上海 200083;上海节能镀膜玻璃工程技术研究中心,上海 200083;上海量子科学研究中心,上海 201315;中国科学院大学,北京 100049;南通智能传感研究院,江苏 南通 226000
基金项目:本研究得到了国家重点研发项目(2021YFA0715500)和国家自然科学基金资助(11874376)
摘    要:薄膜的光学常数(折射率和消光系数)精度直接影响设计和制造的光学器件的性能。大多数光学常数的测定方法较为复杂,不能直接应用在镀膜过程中。提出了一种薄膜光学常数原位实时测量的方法,通过监测沉积材料的透射率可以快速准确地测量光学常数。测量了高吸收材料Si、低吸收材料Ta2O5和超低吸收材料SiO2的近红外光学常数,用这种方法测得光学常数分别为n=3.22,k=4.6×10-3n=2.06,k=1.3×10-3n=1.46,k=6.6×10-5。该方法适用于强吸收材料和弱吸收材料光学常数的测定,为在线精确测量薄膜的光学常数提供了一种有效的方法,对设计和制造高质量的光学器件具有重要意义。

关 键 词:光学常数  近红外  薄膜  原位  测定
收稿时间:2022-02-14
修稿时间:2022-09-07

On-site determination of optical constants for thin films
XIE Mao-Bin,WU Zhi-Yong,CUI Heng-Yi,ZHAO Xin-Chao,XUAN Zhi-Yi,LIU Qing-Quan,LIU Feng,SUN Liao-Xin and WANG Shao-Wei. On-site determination of optical constants for thin films[J]. Journal of Infrared and Millimeter Waves, 2022, 41(5): 888-893
Authors:XIE Mao-Bin  WU Zhi-Yong  CUI Heng-Yi  ZHAO Xin-Chao  XUAN Zhi-Yi  LIU Qing-Quan  LIU Feng  SUN Liao-Xin  WANG Shao-Wei
Abstract:
Keywords:Optical constants  near-infrared  thin film  on-site  determination
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