基于STM32的数字化万用表校验仪制作

针对现有的万用表校验仪存在的不能实现自校准,显示不清晰,器件老化精度降低等问题,设计了一种基于STM32的数字化万用表校验仪,详细介绍了该校验仪各单元的电路设计。改进后的校验仪校验结果准确度高,操作方便,大大提高了工作效率。