| 反应堆辐照后铪同位素质谱分析研究 |
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| 引用本文： | 张春华,邓辉,张舸,郑云,张劲松,姜山,寅新艺.反应堆辐照后铪同位素质谱分析研究[J].质谱学报,2004,25(Z1):169-170. |
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| 作者姓名： | 张春华 邓辉 张舸 郑云 张劲松 姜山 寅新艺 |
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| 作者单位： | 1. 中国核动力研究设计院,四川,成都,610005
2. 中国原子能科学研究院核物理研究所,北京,102413 |
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| 摘 要： | 铪常用作反应堆控制棒材料,在反应堆辐照下产生半衰期较短(42.39d)的181Hf和半衰期很长(9×106a)的182Hf.曾有报道采用热电离质谱(TIMS)对天然铪同位素1,2]和利用加速器质谱(AMS)对182Hf同位素进行测量3],但未见用热电离质谱测量181Hf与182Hf的报导.因此,用TIMS测量反应堆辐照后铪同位素的变化,对反应堆物理研究有重要意义.但铪的电离电位很高,用TIMS测量有一定难度.本工作拟研究铪的质谱测量条件,包括消除同量异位素182W对测量干扰的方法.
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| 文章编号： | 1004-2997(2004)增刊-169-02 |
| 修稿时间： | 2004年8月1日 |
Analysis of Irradiated Hf Isotope by Mass Spectrometry |
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