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| 特高压系统用电容器组开关弧触头失效分析 | |
| 作者单位： | ;1.西安理工大学陕西省电工材料与熔(浸)渗技术重点实验室;2.中国电力科学研究院;3.西安西电高压开关有限责任公司 |
| 摘 要： | 为了提高特高压系统用电容器组开关弧触头的使用寿命,在拟工况环境下对其进行电寿命实验,发现Cu W/Cu Cr弧触头在近千次开合实验后失效。通过对失效前后弧触头的形貌、成分、组织及性能变化进行分析研究,寻找影响弧触头使用寿命的主要因素。结果表明:特高压系统用电容器组开关弧触头除电弧烧蚀引起弧触头失效外,机械磨损及挤压变形也是影响其使用寿命的关键因素。因此,协同提高耐电弧烧蚀、抗机械磨损及挤压变形的能力是制备高电气寿命触头材料的关键。 |
| 关 键 词： | 特高压 弧触头 失效分析 电弧烧蚀 机械磨损 |
Failure Analysis of Capacitor Bank Switch Arcing Contact for Ultra-high Voltage System |
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