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测试DWDM组件的损耗和色散
作者姓名:ThomasJensen  OliverFunke  UlrichWageman
作者单位:安捷伦科技,100022
摘    要:本文介绍了DWDM组件的“全参数测试”的需要。“全参数测试”表示不仅要测组件的损耗,而且还测色散,文中提出了一种测量损耗和色散的全新方法。

关 键 词:DWDM组件  损耗和色散测量  光纤光栅测试
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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