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| 大规模集成电路的测试——介绍一台40毫微秒的半导体存贮器测试仪 | |
| 引用本文： | 陈龙华.大规模集成电路的测试——介绍一台40毫微秒的半导体存贮器测试仪[J].计算机工程,1980(1). |
| 作者姓名： | 陈龙华 |
| 摘 要： | 大规模集成的半导体存贮器,近年来已大量应用于电子计算机,正在逐步取代占据存贮器领域二十余年的磁芯存贮器。目前广泛用作计算机主存的NMOS RAM,单片容量为4K,16K的标准16条引腿的NMOS已成为市场广泛应用的产品,而单片容量为64K的NMOS也已问世,估计不久将大量投入应用。作为高速小存用的双极型RAM,其容量一般在 |
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