混合信号总线测试实例 |
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引用本文: | 雷加,李正光.混合信号总线测试实例[J].世界产品与技术,2003(12):72-74. |
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作者姓名: | 雷加 李正光 |
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作者单位: | [1]桂林电子工业学院电子工程系CAT研究室 [2]怀化学院物理系应用物理教研室 |
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摘 要: | 混合信号电路(Mixed-signalCircuits)广泛应用于通信、多媒体、工业电子和消费类电子产品中。其测试方法有很多,其中基于边界扫描技术的混合信号测试总线已越来越受欢迎。在定义混合信号测试总线时,要求不仅能够测试桥接故障、开路故障、对模拟元件值进行测试,而且还要能够与IEEE1149.1兼容。为此,IEEE半导体工业协会(SA)标准委员会于1999年6月批准了建立混合信号测试总线标准的1149.4文件。
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关 键 词: | 边界扫描 混合信号总线 IEEE1149.4 KLIC芯片 |
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