| 一种全偏振参数的显微测量系统 |
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| 引用本文： | 李宇波,李世博,陈伟坚,曾宇骁,杨建义. 一种全偏振参数的显微测量系统[J]. 光电工程, 2010, 37(12). DOI: 10.3969/j.issn.1003-501X.2010.12.008 |
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| 作者姓名： | 李宇波 李世博 陈伟坚 曾宇骁 杨建义 |
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| 作者单位： | 浙江大学,微电子与光电子研究所,杭州,310027;浙江大学,微电子与光电子研究所,杭州,310027;浙江大学,微电子与光电子研究所,杭州,310027;浙江大学,微电子与光电子研究所,杭州,310027;浙江大学,微电子与光电子研究所,杭州,310027 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目 |
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| 摘 要： | 本文设计了一种用于Mueller矩阵测量的全偏振参数显微镜测量系统.该测量系统以液晶调制器键合于偏振分束棱镜表面的模块为核心器件,实现了以10次光强获取为周期的Mueller矩阵参数测量功能,能够方便地实现Mueller矩阵中全部参数图像的实时测量,比前人设计系统的测量效率有很大提高.基于该系统,本文进行了Mueiler矩阵快速调制测量方案的具体设计,并给出了测量结果.论文还对该系统进行了测量误差的分析,实验结果及误差分析表明,系统的相对测量误差能够控制在2%以内.
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| 关 键 词： | 全偏振 Mueller矩阵 显微成像 液晶调制器 |
A Microscope Measurement System of Cellular Mueller Matrix |
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| LI Yu-bo,LI Shi-bo,CHEN Wei-jian,ZENG Yu-xiao,YANG Jian-yi. A Microscope Measurement System of Cellular Mueller Matrix[J]. Opto-Electronic Engineering, 2010, 37(12). DOI: 10.3969/j.issn.1003-501X.2010.12.008 |
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| Authors: | LI Yu-bo LI Shi-bo CHEN Wei-jian ZENG Yu-xiao YANG Jian-yi |
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