| 基于边界扫描技术和TCL语言的簇测试设计 |
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| 作者姓名： | 胡晓 谈恩民 陈寿宏 尚玉玲 |
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| 作者单位： | 桂林电子科技大学 电子工程与自动化学院,广西 桂林 541004;桂林电子科技大学 电子工程与自动化学院,广西 桂林 541004;桂林电子科技大学 电子工程与自动化学院,广西 桂林 541004;桂林电子科技大学 电子工程与自动化学院,广西 桂林 541004 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金项目(61102012)。 |
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| 摘 要： | 在边界扫描测试技术中,由BS器件和非BS器件主成的逻辑簇测试是研究的难点问题,文章介绍了高效、简明、移植性好的TCL语言.在深入研究边界扫描簇测试原理的基础上,以实现逻辑簇测试为目的,采用了TCL嵌入C++的方法实现测试用例的脚本化,完成了基于TCL语言的Cluster测试脚本设计;通过对数字电路实验板的测试结果分析,得到了使用TCL脚本语言与C++联合编程能够实现簇测试,并且可以提高边界扫描测试软件工作效率的结论,具有较好的应用前景。
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| 关 键 词： | TCL脚本 簇测试 边界扫描测试 |
| 收稿时间： | 2014-04-10 |
| 修稿时间： | 2014-05-10 |
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