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脉冲激光沉积法Li-N双受主共掺p型ZnO薄膜的生长及其特性
引用本文:张银珠,叶志镇,吕建国,何海平,顾修全,赵炳辉,Zhang Yinzhu,Ye Zhizhen,Lü Jianguo,He Haiping,Gu Xiuquan,Zhao Binghui.脉冲激光沉积法Li-N双受主共掺p型ZnO薄膜的生长及其特性[J].半导体学报,2007,28(Z1):322-325.
作者姓名:张银珠  叶志镇  吕建国  何海平  顾修全  赵炳辉  Zhang Yinzhu  Ye Zhizhen  Lü Jianguo  He Haiping  Gu Xiuquan  Zhao Binghui
作者单位:张银珠(浙江大学硅材料国家重点实验室,杭州,310027);叶志镇(浙江大学硅材料国家重点实验室,杭州,310027);吕建国(浙江大学硅材料国家重点实验室,杭州,310027);何海平(浙江大学硅材料国家重点实验室,杭州,310027);顾修全(浙江大学硅材料国家重点实验室,杭州,310027);赵炳辉(浙江大学硅材料国家重点实验室,杭州,310027)
摘    要:采用脉冲激光沉积技术制备了Li-N双受主共掺杂p型ZnO薄膜,其中Li来自Li掺杂ZnO陶瓷靶,N来自N2O生长气氛.室温Hall测试发现Li-N共掺p型ZnO薄膜的最低电阻率为3.99Ω·cm,迁移率为0.17cm2/(V·s),空穴浓度为9.12×1018cm-3.PL谱测试发现了与Li受主和N受主态相关的发光峰,其受主能级分别约为120和222meV.由p-ZnO:(Li,N)薄膜制备的ZnO同质p-n结具有整流特性.

关 键 词:Li-N双受主共掺杂  p-ZnO  脉冲激光沉积
文章编号:0253-4177(2007)S0-0322-04
修稿时间:2006年11月16

Preparation and Characterization of p-Type ZnO Using Li-N Dual-Acceptor Doping Method by Pulsed Laser Deposition
Zhang Yinzhu,Ye Zhizhen,He Haiping,Gu Xiuquan,Zhao Binghui.Preparation and Characterization of p-Type ZnO Using Li-N Dual-Acceptor Doping Method by Pulsed Laser Deposition[J].Chinese Journal of Semiconductors,2007,28(Z1):322-325.
Authors:Zhang Yinzhu  Ye Zhizhen  He Haiping  Gu Xiuquan  Zhao Binghui
Abstract:
Keywords:
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