线性集成电路测试方法及SI-1型综合参数测试仪鉴定会

为了解决线性集成电路直流和低频参数测试方面存在的问题,沈阳仪器仪表工艺研究所第四研究室,开展了线性集成电路测试方法的研究工作,并研制成功了SI-1型线性集成电路综合参数测试仪。80年7月26日至28日在沈阳召开了上述测试方法和测试仪器的鉴定会,会议由沈阳仪器仪表工艺研究所主持,国家仪器仪表总局和有关工厂、院校、科研、共11个单位,15名代表参加了会议。