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测试算法评估及可测性预报系统
引用本文:钮颖彬,徐拾义,康建国.测试算法评估及可测性预报系统[J].计算机工程与科学,2001,23(5):74-76.
作者姓名:钮颖彬  徐拾义  康建国
作者单位:上海大学计算机工程与科学学院
基金项目:国家自然科学基金资助项目 ( 6 98730 30 )
摘    要:测试算法评估及可测性预报系统使用回归分析和遗传算法,为测试生成算法建立可测性参数的预报模型,使得对于给定电路,不必实际运行各测试生成算法,就可以快速评估并预报出最适合的算法。本文整体介绍了这一系统,并对其中各主要模块作了重点描述。

关 键 词:逻辑电路  测试算法评估  可测性预报系统  计算机
文章编号:1007-130X(2001)05-0074-03

The Evaluation and Forecast System for Test Generation Algorithms
NIU Ying-bin,XU Shi-yi,KANG Jian-guo.The Evaluation and Forecast System for Test Generation Algorithms[J].Computer Engineering & Science,2001,23(5):74-76.
Authors:NIU Ying-bin  XU Shi-yi  KANG Jian-guo
Abstract:The evaluation and forecast system for test generation algorithms builds forecast models of testability parameters for test gener ation algorithms by using regression analysis and genetic algorithms For a given cir cu it, it forecasts the most suitable test generation algorithm without applying all the algorithms This paper introduces the whole system and describes the ma in modules in detail
Keywords:characteristic parameters  testability paramet ers  regression analysis forecast model  genetic algorithm forecast model
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