应用摄谱仪作石灰石中主要杂质的定量分析 |
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作者姓名: | 张景明 沈恺 张恩隆 |
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作者单位: | 建材部水泥工业研究院(张景明),建筑材料工业研究院(沈恺),南京工学院化工系(张恩隆) |
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摘 要: | 一 前言 由于不同矿区与不同岩层的石灰石杂质含量迥然各异,因而水泥工业勘探石灰石时往往须要采集大批样品,而要把大批样品一一进行化学分析是既费时又费事的。 我们工作的目的是想应用光谱分析法迅速测定杂质含量悬殊的石灰石样品,希望能在一次摄谱中测定。SiO_2;Al_2O_3;Fe_2O_3及MgO的含量。被分析样品中主要杂质含量的变动范围示于表1。
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