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故障分类时顺序约束指数可靠性增长的Bayes精确限
引用本文:周源泉,郭建英.故障分类时顺序约束指数可靠性增长的Bayes精确限[J].仪器仪表学报,1999,20(6):626-629.
作者姓名:周源泉  郭建英
作者单位:1. 北京强度与环境研究所,北京,100076
2. 哈尔滨理工大学,哈尔滨,150080
摘    要:按IEC1014,将研制试验中产品的故障分为A型与B型,对研制试验的所有阶段,A型故障服从失效率λ0的指数分布,阶段i的B型故障服从失效率λi 的指数分布,若产品仅引入延缓纠正,则λi 非增,即满足顺序约束条件:λ1 ≥λ2≥…≥λm ,基于此条件,在取共轭型与无信息先验分布时,本文推导了研制试验最后阶段的失效率λ= λ0 + λm 与可靠性R(t)= e- λt(t是任务时间)的Bayes精确限。

关 键 词:可靠性增长  顺序约束  指数分布  延缓纠正  Bayes限

Exact Bayesian Limits for Ordered Constraint Exponential Reliability Growth with Classified Failure
Zhou Yuanquan,Guo Jianying.Exact Bayesian Limits for Ordered Constraint Exponential Reliability Growth with Classified Failure[J].Chinese Journal of Scientific Instrument,1999,20(6):626-629.
Authors:Zhou Yuanquan  Guo Jianying
Affiliation:Zhou Yuanquan (Beijing Institute of Structure and Environment Beijing 100076) Guo Jianying (Harbin University of Science and Technology Harbin 150080)
Abstract:
Keywords:Reliability growth  Ordered constraint  Exponential distribution  Delayed modification  Bayesin limits
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