| 边界扫描测试-复杂MCM的主流测试技术 |
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| 引用本文： | 郭学仁. 边界扫描测试-复杂MCM的主流测试技术[J]. 桂林电子科技大学学报, 2000, 20(4): 14-20 |
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| 作者姓名： | 郭学仁 |
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| 作者单位： | 桂林电子工业学院,电子工程系,广西,桂林,541004 |
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| 摘 要： | IEEE-1149.1测试标准已被广泛认为是解决复杂MCM和PCB测试问题的主流测试技术.本文概要论及与测试相关的设计特性,详细讨论了不同MCM的边界扫描测试策略.
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| 关 键 词： | 可测性 边界扫描 MCM |
| 修稿时间： | 2000-08-28 |
The Boundary Scan test--A Main Stream Test Technology for Complex MCM |
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| Guo Xueren. The Boundary Scan test--A Main Stream Test Technology for Complex MCM[J]. Journal of Guilin University of Electronic Technology, 2000, 20(4): 14-20 |
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| Authors: | Guo Xueren |
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