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SiC紫外光电探测器高反压下增益性能的研究
引用本文:黄莉敏,谢家纯,梁锦,孙腾达.SiC紫外光电探测器高反压下增益性能的研究[J].微电子学,2005,35(4):357-359.
作者姓名:黄莉敏  谢家纯  梁锦  孙腾达
作者单位:中国科学技术大学,物理系,安徽,合肥,230026
基金项目:国家自然科学基金,中国科学院知识创新工程项目
摘    要:用宽禁带半导体n-4H-SiC和金属Au作肖特基接触,Ti、Ni、Ag合金作背底,形成欧姆接触,研制出Au/n-4H-SiC肖特基紫外探测器.文章测试并分析了器件在高压下的紫外光电响应的高增益特性,反压150 V下,增益可达到3.8×104.在高反压下(100 V以上),探测器的光谱响应曲线出现了锐上升和锐截止,在260~380 nm之间,有非常平稳的光谱响应;在高温533 K无偏压下,紫外响应特性仍然保持良好.

关 键 词:宽带隙  碳化硅  肖特基接触  光谱响应  紫外探测器
文章编号:1004-3365(2005)04-0357-03
收稿时间:2004-10-27
修稿时间:2004-10-27

A Study on the Gain Performance of SiC Ultraviolet Photodetectors at High Reverse Biased Voltage
HUANG Li-min,XIE Jia-chun,Liang Jin,SUN Teng-da.A Study on the Gain Performance of SiC Ultraviolet Photodetectors at High Reverse Biased Voltage[J].Microelectronics,2005,35(4):357-359.
Authors:HUANG Li-min  XIE Jia-chun  Liang Jin  SUN Teng-da
Abstract:
Keywords:Wide-band gap  SiC  Schottky contact  Spectrum response  UV detector
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
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