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责任编辑
分类号
杂志ISSN号
用于HREM分析的位错结构模型
作者姓名:
陈一 胡岗 郑国祥 严学俭 吴晓京
作者单位:
复旦大学材料科学系,上海200433
摘 要:
本文推荐建立一种用于高分辨电子显微术(HREM)分析的位错结构模型,希望对该问题的解决有所帮助。
关 键 词:
结构模型 HREM 位错 高分辨电子显微术
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