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通过散射板干涉仪的改型实现非球面的零测试
引用本文:徐敏,游艺锋. 通过散射板干涉仪的改型实现非球面的零测试[J]. 光学仪器, 1998, 20(1): 8-12
作者姓名:徐敏  游艺锋
作者单位:浙江大学光科系!杭州310027
摘    要:通过对散射板干涉位的适当改型,利用散射板上高轮点产生的附加程基来补偿球面和非球面之间的光程基,无需任何零光学元件,就可产生一种新型的二次非球面零测试法。本文对这一方法进行了描述、分析和实验。

关 键 词:散射板干涉仪  零测试  非球面

Measurement Aspherical Surface by a New Kind Scatter Plate Interferometer
XU Min,YOU Yifeng,ZHUO Yongmo. Measurement Aspherical Surface by a New Kind Scatter Plate Interferometer[J]. Optical Instruments, 1998, 20(1): 8-12
Authors:XU Min  YOU Yifeng  ZHUO Yongmo
Abstract:A new kind scatter plate interferometer which achieved null-testing of aspheri-cal surface. The approach makes use of a large aperture scatter plate for compensating theoptical path differences between spherical and aspherical surface, needn't any null optical el-ements. This paper describes the method principle and give a testing.
Keywords:Scatter Plate Interferometer   Null-test   Aspherical Surface
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