| 硅条探测器前端ASIC芯片测试系统电路设计 |
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| 引用本文： | 千奕,苏弘,徐四九,李小刚. 硅条探测器前端ASIC芯片测试系统电路设计[J]. 核技术, 2008, 31(3): 229-232 |
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| 作者姓名： | 千奕 苏弘 徐四九 李小刚 |
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| 作者单位： | 1. 中国科学院近代物理研究所,兰州,730000;中国科学院研究生院,北京,100049
2. 中国科学院近代物理研究所,兰州,730000 |
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| 摘 要： | 介绍一种前端读出专用集成电路(ASIC,Application-Specific Integrated Circuit)芯片性能测试系统的电路设计与实现.该ASIC芯片可用于构成硅微条探测器、硅条、Si(Li)和CsI探测器的前端读出电子学系统.本文详细描述了测试系统的构成,主要电路设计,系统应用以及部分测试结果,并简要介绍了被测ASIC芯片的电路结构.
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| 关 键 词： | 硅条探测器 前端ASIC 测试系统 硬件设计 |
| 收稿时间： | 2007-06-12 |
| 修稿时间： | 2007-11-02 |
A testing system circuit for front-end ASIC of silicon strip detector |
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| QIAN Yi,SU Hong,XU Sijiu,LI Xiaogang. A testing system circuit for front-end ASIC of silicon strip detector[J]. Nuclear Techniques, 2008, 31(3): 229-232 |
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| Authors: | QIAN Yi SU Hong XU Sijiu LI Xiaogang |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Silicon strip detector Front-end ASIC Test system Circuit design |
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