| 边界扫描测试技术在雷达BIT电路中的应用 |
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| 引用本文： | 察豪,杨智,冷东方. 边界扫描测试技术在雷达BIT电路中的应用[J]. 现代雷达, 2000, 22(1): 50-53 |
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| 作者姓名： | 察豪 杨智 冷东方 |
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| 作者单位： | 1. 海军电子工程学院,南京,211800
2. 中国人民解放军38615部队,秦皇岛,066000 |
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| 摘 要： | 提出了一种采用超大规模集成电路的边界扫描测试技术来设计内建自测试(BIT)电路的方法。此方法利用一片单片机的I/O口线以及超大规模集成电路所具有的边界扫描测试结构来实现对VLST集成电路芯片的故障诊断。
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| 关 键 词： | 边界扫描测试 BIT电路 雷达 VLSI |
| 修稿时间： | 1999-01-17 |
The Application of Boundary Scan Test Technology in Radar BIT Circuit |
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| Cha Hao,Yang Zhi,Leng Dongfang. The Application of Boundary Scan Test Technology in Radar BIT Circuit[J]. Modern Radar, 2000, 22(1): 50-53 |
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| Authors: | Cha Hao Yang Zhi Leng Dongfang |
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| Affiliation: | Cha Hao,Yang Zhi;(Naval Electronic Engineering Academy Nanjing 211800);Leng Dongfang;(Troop 38615 of PLA Qinhuangdao 066000) |
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| Abstract: | The article provides a method to design BIT circuit using BST technology of VLST. This method uses I/O port of a microchip computer and BST architecture of VLSI to accomplish fault diagnosis. |
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| Keywords: | boundary scan test BIT circuit |
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