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厚膜用铂银导体性能研究
引用本文:董永平,潘英.厚膜用铂银导体性能研究[J].混合微电子技术,2008,19(2).
作者姓名:董永平  潘英
作者单位:中国电子科技集团公司第43研究所,合肥230022
摘    要:本文主要介绍厚膜用铂银导体的主要性能,以及在稳恒电场环境下可能的电迁移和离子迁移现象试验结果,另外对铂银导体的表面成分进行了分析,并对其使用提出了建议。

关 键 词:厚膜  铂银导体  电迁移  离子迁移
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