| 最小相关度的多捕获(Multi-capture)扫描测试结构 |
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| 引用本文： | 凌明,杨军,桑伟伟.最小相关度的多捕获(Multi-capture)扫描测试结构[J].电路与系统学报,2006,11(5):148-152. |
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| 作者姓名： | 凌明 杨军 桑伟伟 |
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| 作者单位： | 东南大学,国家专用集成电路系统工程技术研究中心,江苏,南京210096 |
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| 摘 要： | 为了压缩测试向量并降低芯片测试成本,本文提出了一种新的基于最小相关度扫描链的多捕获(Multi-capture)测试结构.通过构建具有最小相关度扫描链,使得多捕获测试在保证高故障覆盖率的同时降低所需ATE的存储容量.本文还提出了一种面向最小相关度多捕获结构的测试向量生成算法.采用ISCAS'89基准电路的实验结果表明本文提出的结构和算法可以获得最高近90%的测试压缩比(大电路).
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| 关 键 词： | 多捕获(Multi-capture)测试 扫描链 最小相关度 |
| 文章编号： | 1007-0249（2006）05-0148-05 |
| 收稿时间： | 2004-09-20 |
| 修稿时间： | 2005-08-10 |
A Multi-capture testing based on minimum relativity scan chain |
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| LING Ming,YANG Jun,SANG Wei-wei.A Multi-capture testing based on minimum relativity scan chain[J].Journal of Circuits and Systems,2006,11(5):148-152. |
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| Authors: | LING Ming YANG Jun SANG Wei-wei |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Multi-capture structure scan chain minimum relativity |
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